Device-Test und Testentwicklung

  • Test von Designentwürfen mittels systemnaher eingebetteter FPGAs
  • Entwicklung und Aufbau von Applikationsschaltungen und Labortestanordnungen zur Verifikation der Designentwürfe und Muster-ICs
  • Entwurf und Herstellung von Entwicklungssystemen für GED-eigene Controller
  • Entwicklung von bauelementspezifischer Testhard- und Software auf der Basis der bei GED verfügbaren Mixed-Signal-Testsysteme
  • Entwicklung und Herstellung von Mixed-Signal In-House-Testern (Kolibri 3600)
  • Verifizierung und Optimierung von Designentwürfen mit Hilfe von Microprobern auf Die-Level
  • seriennaher IC-Test von Musterstückzahlen im Temperaturbereich (-40°C...150°C)
    • Verifizierung erster Muster auf der Produktionstesthardware
    • Erstellung von Erstmusterprüfberichten
    • Ausmessen von Vorserienmustern für unsere Kunden