Für den IC-Test stehen bei GED folgende Tester zur Verfügung:

 

 

In-House Tester Kolibri 3600

  • 64 Pin Testsystem 33 MHz
  • 2V...18V Digitalpin
  • Tester-pro-Pin Architektur
  • 10 Stk. 2A/60V Quellen

High-Speed Mixed-Signal Tester M3650

  • 100 MHz High-Speed Digitalpin
  • Tester-pro-Pin Architektur
  • Sequencer pro Pin
  • 2M Testvektoren
  • 40 DPIN und 32 APIN

    Credence STS 5000

    • 64 Pin Testsystem
    • -2V...7V Digitalpin
    • Waveform Digitizer, Waveform Generator

      Weiterhin steht bei GED Testequipment für Logikanalyse, Hallbauelemente, Temperaturmessungen (-70°C...150°C), Waferprobing und Spektrumanalyse zur Verfügung.